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科研进展

2010年08月27日
国家同步辐射实验室取得X射线相位衬度成像重大突破

 X射线相位衬度成像是在世纪之交蓬勃发展起来新型成像技术,它弥补了传统X射线成像技术对轻元素材料不敏感的不足,为生命科学、材料科学、信息科学以及医疗诊断、安全检查和工业产品检测等展现了美好的应用前景。然而,迄今为止发展的X射线相位衬度成像方法太繁琐、曝光时间过长、辐射剂量过高,阻碍了这种新型成像技术的应用。

 

 国家同步辐射实验室吴自玉研究员领导的成像研究小组,经过几年的努力,发现X射线正面入射和背面入射的两张投影像中,吸收衬度具有对称性,而折射衬度具有反对称性。根据这一原理,提出了X射线相位CT新方法,实验结果表明新方法克服了以往X射线相位衬度成像方法中的不足,具有简便、快速和低辐射剂量的优点,可以和现有的医学X射线CT技术相结合,形成操作简便、辐射剂量低的X射线相位CT新技术。相关研究论文发表在最近一期的PNAS期刊上[PNAS 107, 13576 (2010)],被审稿人誉为“近二十年来X射线成像的重大突破”。这项研究成果受到国际同行的高度关注,被今年8月在美国芝加哥举行的第十届X射线显微术国际会议(XRM 2010,Chicago)邀请做特邀报告,获得国际多位著名X射线成像专家的高度评价,一致认为这项研究成果具有重大应用前景。

 

 另外,在今年第十届X射线显微术国际会议上,我校国家同步辐射实验室与上海光源联手合作,高票赢得下一届X射线显微术国际会议的举办权(XRM 2012,上海-合肥)。

 

                                                                      (国家同步辐射实验室)

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