近日，第六届国际微束分析会议暨显微学与显微分析2014年会（6th Meeting of the International Union of Microbeam Analysis Societies (IUMAS) conjuncted with Microscopy & Microanalysis (M&M) 2014）在美国哈特福德市举行。会上，我校微尺度物质科学国家实验室博士研究生阮瞩和物理系博士研究生邹艳波同获“Early Career Scholarship”奖。

 

阮瞩的工作“Quantum Monte Carlo Simulation for Atomic Resolution SEM/STEM Image”用最新发展的量子Monte Carlo方法模拟了在STEM中具有原子级分辨率的二次电子像，实现了对晶体样品中二次电子产生、输运及散射过程的模拟分析，证明了高加速电压下的原子内壳层电离是产生二次电子原子级像衬度的主要来源。邹艳波的工作“Model-Based Library for Critical Dimension Metrology by CD-SEM” 基于电子固体相互作用物理模型，采用Monte Carlo方法模拟了纳米线宽的CD-SEM二次电子线扫描曲线，用于扫描电镜测量纳米线宽关键尺寸的数据库研发，也为建议相应的国际标准打了基础。她们的报告得到专家的关注与好评。阮瞩和邹艳波同学的导师是丁泽军教授。